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矽紫外光電探測器

描述:YPM-8202-02 矽紫外光電探測器是一款紫外矽材料探測器,覆蓋200nm至1100nm的波長範圍。它還提供可選的 OD1/OD2/OD3 衰減器以擴展測量範圍。有兩(liang) 種數據采集方法可用:帶儀(yi) 表顯示的 DB15 和 USB 直接連接到 PC。

  • 產品型號:YPM-8202-02
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2025-02-08
  • 訪問量:731
產品介紹/ PRODUCT PRESENTATION
    YPM-8202-02矽紫外光電探測器是一款紫外矽材料探測器,覆蓋200nm至1100nm的波長範圍。它還提供可選的OD1/OD2/OD3衰減器以擴展測量範圍。有兩種數據采集方法可用:帶儀表顯示的DB15和USB直接連接到PC。

    YPM-8202-02矽紫外光電探測器采用DB15接口,需要連接電表進行數據讀取、數據存儲和電量監控。儀表還預留USB通訊接口,可以將探測器采集的上傳數據在PC上的光功率測量軟件中進行分析和采集。

    相比之下,YPM-8202-02-U探測器采用USB通信,無需儀表即可直接連接PC進行數據采集。但PC機需要安裝光功率測量軟件才能實現實時數據采集、數據分析和功率監控。另外,USB型光電探測器可以方便地組成多通道電力采集係統,通過USBHub可以同時采集和顯示多個探測器的數據。

    數字通訊

    探測器完成數據采集和處理,並與光功率計采用數字通信,減少外界幹擾。

    自由空間光或光纖的測量

    該探測器允許用戶測量自由空間光,以及使用我們的光纖連接器適配器(FC或SMA)通過光纖傳輸的激光。

    可配減毒片

    YPM-8202係列光電探測器配有可選的OD1/OD2/OD3衰減墊,以擴展功率測量範圍。

    校準數據

    校準數據以電子方式存儲在與其對應的檢測器中。發貨時,客戶將隨探測器一起收到相應的校準報告。該報告列出了檢測器對相關波長範圍內的光譜的響應(間隔為10nm)。如果存在可選的衰減器,則電子存儲和校準報告中還將包含一組單獨的校準數據。我們提供付費校準服務,為了保持測量精度,我們建議您每年校準一次探測器。

    定製服務

    我們可以根據用戶要求提供定製服務。

    規格

模型 YPM-8202-02-L YPM-8202-02-U
港口 DB15。與YPM-8202-01儀表配合使用 USB。使用 YSW-5002 軟件
材料 矽紫外 矽紫外
波長範圍 200納米-1100納米 200納米-1100納米
功率範圍 100pW - 1mW 100pW - 1mW
(不帶衰減器) -70dBm - 0dBm -70dBm - 0dBm
最大限度。斷言。功率密度 1毫瓦/厘米^2 1毫瓦/厘米^2
新經濟政策 3.9E-14W/√HZ 3.9E-14W/√HZ
響應時間 5.9us 5.9us
有效直徑 1.128厘米 1.128厘米
有效麵積 1厘米^2 1厘米^2
不確定 ±5% ±5%
線性度 ±0.5% ±0.5%
均勻度 ±2% ±2%
電纜 1.5m 1.5m
安裝孔 8-32 / M4 8-32 / M4
尺寸(深/高) Φ38毫米x28毫米 Φ38毫米x28毫米
重量 105克 105克
工作溫度和相對濕度 5℃-50℃<70% 相對濕度 5℃-50℃<70% 相對濕度

    紫外增強矽探測器響應曲線

test_BIM-7102.png

    在254nm處測量

    方麵

7101-03-尺寸.jpg


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