YMP-6114 # 原子力顯微鏡

簡介

AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（STM）之後發明的一種具有原子級高分辨的新型儀(yi) 器，可以對各種材料和樣品進行納米區域的物理性質包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱。現已廣泛應用於(yu) 各種納米相關(guan) 學科的研究實驗領域中，成為(wei) 納米科學研究的基本工具。

AFM探針與(yu) 樣品（導體(ti) 、半導體(ti) 、非導體(ti) ）之間的原子力大小，與(yu) 兩(liang) 者間距有關(guan) 。當探針與(yu) 樣品進入原子力狀態時，作用於(yu) 針尖上的原子力推動微懸臂使之產(chan) 生偏轉。此時對樣品進行XY掃描，微懸臂的偏轉量隨樣品表麵的起伏而變化，采用光杠杆方法將偏轉量放大從(cong) 而獲得偏轉量的大小，即可獲得樣品表麵的微觀納米形貌。

YMP-6114 # 原子力顯微鏡特點

AFM探頭采用臥式設計，具有臥式可視化光路，使科研及教學實驗過程中研究人員及學生對儀(yi) 器的操作更直觀，探頭及儀(yi) 器性能更加穩定。

• 采用高精度壓電陶瓷掃描傳(chuan) 感器， X、Y、Z互相正交的三軸壓電陶瓷，可保證掃描圖像不因耦合而失真；掃描器具有更好的掃描線性和獨立性、更高的強度和剛度，兼具更強的掃描驅動力，能同時適用於(yu) 較小與(yu) 較大、較輕與(yu) 較重樣品的掃描成像。

• 具有強大的圖形軟件與(yu) 功能，彩色圖像掃描、處理及顯示軟件，中英文操作界麵，兼容Windows XP/Win7/Win8/Win10等操作係統。用鼠標可任意選擇局部掃描區域，實現圖像的平移、定位和縮放。具有實現X 和 Y 方向的麵掃描和線掃描的功能；可獲得樣品表麵的納米級三維形貌結構和截麵線顯示功能。裁剪、粘貼、 對比調節、亮度調節、顏色調整、背景色調整、圖像平滑、濾波等圖像處理功能。   

• AFM的使用非常簡單和便捷，一般無需專(zhuan) 人操作和維護。安裝探針、安裝樣品、粗調和微調進樣、圖像掃描、圖像存儲(chu) 等操作，均可簡單完成。特別適用於(yu) 科學研究、教學實驗及產(chan) 品檢測。

• 無須嚴(yan) 苛的使用環境，能夠在在普通實驗室、普通實驗台、普通教室、普通桌子等條件下正常運行，能夠在有光照、有輕微振動及有人員走動的一般環境條件下正常工作。我們(men) 的AFM是看得見、摸得著、易維護、易操作、普適化的，而不是黑箱式的、安裝調試極其繁瑣的、需要專(zhuan) 人操作的、使用環境近乎嚴(yan) 苛的。

YMP-6114 # 原子力顯微鏡應用

同時適用於(yu) 科學研究、本科生和研究生的教學實驗及納米技術產(chan) 品的檢測，廣泛適用於(yu) 各種金屬/非金屬、導體(ti) /非導體(ti) 、磁性/非磁性材料樣品的掃描檢測。

典型測試數據

納米壓印結構樣品的AFM圖像

部件列表