ROE-RI04 # 光學薄膜測量綜合實驗

描述：ROE-RI04 # 光學薄膜測量綜合實驗：減反射膜、增反射膜、金屬膜、分光鏡、二向色鏡、帶通濾光片、白光幹涉、薄膜測厚、能量比、反射率、透過率。

產品型號：
廠商性質：生產廠家
更新時間：2025-02-26
訪問量：14

產品谘詢聯係我們

產品介紹/ PRODUCT PRESENTATION

ROE-RI04 # 光學薄膜測量綜合實驗簡介

伴隨著21世紀初光電子技術的迅猛發展，光學薄膜器件的應用向著性能要求和技術難度更高、應用範圍和知識領域更廣、器件種類和需求數量更多的方向迅速發展。為(wei) 了使學生適應發展需求、拓展知識範圍、增加知識深度、開闊視野和提升能力，開發了光學薄膜測量綜合實驗，針對市場上常用的鍍膜片進行研究，從(cong) 鍍膜的原理到實際樣品的測試，逐步深入，是學生了解光學鍍膜原理和應用的良好實驗平台。

ROE-RI04 # 光學薄膜測量綜合實驗內(nei) 容

光譜儀(yi) 的原理與(yu) 使用實驗；

白光幹涉測薄膜厚度實驗；

鍍膜介質折射率測量實驗；

單層膜特性模擬實驗；

減反射膜模擬與(yu) 測試實驗；

增反射膜模擬與(yu) 測試實驗；

截止濾光片模擬與(yu) 測試實驗；

帶通濾光片模擬與(yu) 測試實驗；

分光鏡模擬與(yu) 測試實驗；

帶通濾光片的角特性實驗。

實驗知識點